在 UV 老化試驗(yàn)、固化工藝等應(yīng)用場景中，試驗(yàn)箱 UV輻照強(qiáng)度的穩(wěn)定性直接決定測試結(jié)果的可靠性。傳統(tǒng)控制方式常因光源衰減、環(huán)境干擾等因素導(dǎo)致輻照強(qiáng)度波動，引發(fā)測試失效。為攻克這一難題，基于雙閉環(huán) PID 控制的解決方案，能夠?qū)崿F(xiàn) ±0.5% 的高精度輻照穩(wěn)定性，為各類 UV 測試與工藝提供可靠保障。

雙閉環(huán) PID 控制方案通過 “內(nèi)環(huán) + 外環(huán)" 的協(xié)同調(diào)節(jié)機(jī)制，實(shí)現(xiàn)對輻照強(qiáng)度的精準(zhǔn)控制。內(nèi)環(huán)為功率控制環(huán)，以光源驅(qū)動電流或電壓為控制對象，通過快速響應(yīng)消除因電源波動、光源內(nèi)阻變化等引起的瞬時功率波動。該環(huán)采用高采樣頻率（1000Hz 以上）的電流 / 電壓傳感器實(shí)時監(jiān)測光源輸入功率，并利用 PID 算法快速調(diào)節(jié)驅(qū)動電路的脈寬調(diào)制（PWM）信號，使功率輸出快速穩(wěn)定。例如，當(dāng)檢測到電源電壓突降時，內(nèi)環(huán)可在毫秒級內(nèi)增大 PWM 占空比，維持光源輸入功率恒定。