GJ03-802光子相關(guān)納米粒度儀的技術(shù)資料

【資料簡(jiǎn)介】

GJ03-802光子相關(guān)納米粒度儀的技術(shù)資料

GJ03-802光子相關(guān)納米粒度儀是玖久儀器公司向您推薦的新一代粒度儀

儀器特點(diǎn)：

1.*的測(cè)試原理 

該儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理，其測(cè)試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn)，從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性；

2.高靈敏度與信噪比 

核心部件采用我公司自主研制CR256數(shù)字相關(guān)器，它實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)光 散射信息，為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ)；

3.穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 

采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗*力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性；

4.高精度恒溫控制系統(tǒng) 

采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)±0.2℃，使樣品在整個(gè)測(cè)試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。

技術(shù)參數(shù)

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996

GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008

測(cè)試范圍1 ~ 10000nm（與樣品有關(guān)）

準(zhǔn)確度< 1%（標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑）

重復(fù)性< 1%（標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑）

測(cè)試濃度0.1mg/ml ~ 100mg/ml（與樣品有關(guān)）

激光半導(dǎo)體激光器，λ= 532nm， P=30mW

探測(cè)器光電倍增管（PMT）

散射角90o

樣品池10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL

測(cè)試溫度5 ~ 40 ℃

溫控精度±0.2 ℃

測(cè)試速度< 5Min

體積480mm×270mm×170mm

重量12Kg

數(shù)字相關(guān)器

規(guī)格型號(hào)CR256

自相關(guān)通道256

基線通道4

單位延遲時(shí)間100ns ~ 10ms