美國(guó)Energetiq光源

【資料簡(jiǎn)介】

美國(guó)Energetiq光源

品牌介紹：

Energetiq由一支經(jīng)驗(yàn)豐富的高科技開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)于2004年成立，是高級(jí)光源的開(kāi)發(fā)商和制造商，這些光源可以制造和分析納米級(jí)結(jié)構(gòu)和產(chǎn)品。Energetiq的輕型產(chǎn)品用于復(fù)雜的科學(xué)和工程應(yīng)用，例如生命科學(xué)和半導(dǎo)體制造分析儀器，其光產(chǎn)品基于新技術(shù)，可產(chǎn)生從1nm至1000nm甚至更高的光譜范圍的高亮度，具有高可靠性，長(zhǎng)使用壽命，并采用緊湊包裝�？梢詾榭蛻�(hù)提供滿(mǎn)意的產(chǎn)品及服務(wù)。

 

產(chǎn)品范圍：

美國(guó)Energetiq光源、半導(dǎo)體計(jì)量光源、激光驅(qū)動(dòng)光源

 

主要型號(hào)：

EQ-99X、EQ-99XFC、EQ-99CAL、EQ-9、EQ-77、EQ-400、TLS-EQ-9、TLS-EQ-77、EQ-10、EQ-10HR、EQ-10HP、EQ-10SXR

 

相關(guān)產(chǎn)品介紹：

EQ-99X

緊湊，高亮度，寬帶光源

描述：

緊湊型EQ-99X是一種超高亮度，高穩(wěn)定性寬帶光源，專(zhuān)門(mén)為要求苛刻的成像和光譜應(yīng)用而設(shè)計(jì)。具有出色的空間和功率穩(wěn)定性，可在廣譜范圍內(nèi)進(jìn)行高度重復(fù)的測(cè)量。EQ-99X可提供一系列自由空間寬帶反射耦合光學(xué)器件，以使?100µm等離子尺寸與客戶(hù)的儀器或應(yīng)用相匹配。具有高亮度，小等離子的特點(diǎn)，特別適合使用窄光譜儀狹縫，小直徑光纖或其他小色散光學(xué)器件的應(yīng)用。

特點(diǎn)：

-連續(xù)激光等離子體放電：100µm-200µm等離子體尺寸

-跨光譜的*亮度：UV-Vis-NIR（170nm-2100nm）

-消除了對(duì)多個(gè)燈的需求：替代了D2 /鎢/氙弧燈

-出色的空間和功率穩(wěn)定性：可重復(fù)測(cè)量

-超凈結(jié)構(gòu)：改善穩(wěn)定性并延長(zhǎng)使用壽命

-無(wú)電極運(yùn)行，使用壽命長(zhǎng)：降低擁有成本

行業(yè)應(yīng)用:

-紫外-可見(jiàn)-近紅外光譜

-單色儀源

-薄膜測(cè)量

-光學(xué)元件測(cè)試

-環(huán)境分析

-材料表征

-氣相測(cè)量

 

TLS-EQ-9

激光驅(qū)動(dòng)的可調(diào)光源–高亮度，寬帶，光纖耦合輸出

描述：

激光驅(qū)動(dòng)的可調(diào)光源是緊湊的，*集成的寬帶光源，可以精確地調(diào)諧到所需的波段。TLS-EQ-9模型基于EQ-9 LDLS，以靈活，易于使用的包裝提供中檔輸出功率。寬波長(zhǎng)范圍可提供從400nm到1100nm的明亮輸出，覆蓋可見(jiàn)光范圍到近紅外（NIR）。光譜分辨率是用戶(hù)可配置的，允許用戶(hù)為不同的應(yīng)用選擇不同的帶寬。穩(wěn)定性能轉(zhuǎn)化為一致，可靠的結(jié)果。快速步進(jìn)時(shí)間和高亮度可實(shí)現(xiàn)高處理吞吐量。

用戶(hù)會(huì)發(fā)現(xiàn)TLS-EQ-9非常易于使用和維護(hù)。直觀的圖形用戶(hù)界面（GUI）允許創(chuàng)建自動(dòng)掃描，在波段之間快速步進(jìn)。光纖耦合輸出可輕松集成到各種光學(xué)配置中。

特點(diǎn):

-快速波長(zhǎng)調(diào)諧，每2.0nm步長(zhǎng)可達(dá)15ms

-光學(xué)匹配匹配的單色儀，具有高效的光學(xué)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)max的光通量

-可配置/靈活的光譜分辨率

-燈泡更換之間的使用壽命長(zhǎng)達(dá)10,000小時(shí)，從而降低了擁有成本

-低噪音和高穩(wěn)定性，可進(jìn)行精確測(cè)量

-用戶(hù)友好的計(jì)算機(jī)界面/ GUI

-方便的光纖輸出可輕松集成到多種應(yīng)用中

-消色差反射耦合光學(xué)器件，用于無(wú)像差輻射收集和聚焦

行業(yè)應(yīng)用:

-光學(xué)傳感器測(cè)試與校準(zhǔn)

-科學(xué)研究

-薄膜測(cè)量

-材料表征