手持式四探針測試儀 四探針測試儀 型號：TR-RTS-3


測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作的手持式設計；
體積僅為：185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高)； 重量：350g；
使用鋰電池供電，一次充電可連續(xù)使用100小時；

 
    TR-RTS-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
    本儀器于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

技　術　指　標 ： 

 測量范圍 電阻率：0.01～1999.9Ω.cm；  
 方塊電阻：0.1～19999Ω/□； 

恒流源 電流量程分為100μA、1mA兩檔，兩檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV；  
 輸入阻抗：>1000MΩ； 精度：±0.1%；  
 顯示：以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本指標 間距：1±0.01mm；  針間緣電阻：≥1000MΩ； 機械游移率：≤0.3%；
 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
四探針探頭應用參數(shù) (見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進行) 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差(用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機測量標準不確定度 ≤5%
外型尺寸 185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高)
重量 350g
電源 鋰電池，一次充電可連續(xù)使用100小時；
標準使用環(huán)境 溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65%； 無高頻干擾； 無強光直射

多功能數(shù)字式四探針測試儀/方塊電阻檢測儀/四探針電阻率儀型號：TC-ST2258A

概述
TC-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
本測試儀特贈設測試結果分類功能，zui大分類10類
儀器所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。
基本技術參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電    阻：     1.0×10-3 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω
電 阻 率：     10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm
方塊電阻：     10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω/□  分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□
2. 可測半導體材料尺寸
直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級
量程 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
誤差 ±0.5%FSB±1LSB（在各量程范圍內(nèi)），量程或欠量程可測量，但誤差將隨欠程度而變大

4) 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
凈   重：≤1kg

公司名稱：北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司
聯(lián) 系 人：蘇
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:     2495283342
地    址：北京市通州區(qū)新華北街117號
網(wǎng)    站：www.5117sel.com