日立手持式熒光光譜儀
X-MET8000 Expert Geo 是一款 X 射線熒光分析儀 (XRF)，用于在采礦過程中的各個階段地質(zhì)化學分析。該儀器便于攜帶且易于使用，有助于大幅度降低對實驗室分析的需求以及相關的成本。
相比于其他手持式 XRF 型號，我們的大面積硅漂移探測器 (SDD) 和革M性的 BOOST 技術將儀器的敏感度提升多達 10 倍。這就提供了低的檢測下限，從而可準確測量各種關鍵元素（例如 雜質(zhì)元素）。產(chǎn)品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點儀,熱導氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,ppb微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃氣熱值儀,Kaye溫度驗證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點儀,干燥機露點儀,激光氣體分析儀,便攜式露點儀,便攜式微量氧分析儀，F(xiàn)ei （維修中心，代表處，總代理，分公司，子公司，售后中心，銷售中心，上海辦，辦事處）
X-MET集成了 GPS，可將地理位置數(shù)據(jù)與分析結果相結合，實現(xiàn)上乘的現(xiàn)場地圖繪制。該儀器也與 Trimble 接收器配合，獲得更準確的位置數(shù)據(jù)。
性能優(yōu)勢
滿足了您目前及未來對檢測的要求
通過我們的采礦校準可以檢測多達40種元素；能夠幫助您）例如鑭 ，鈰，鐠和釹，并且能夠測REEs量化稀土元素（試多種樣品類型，例如：巖石，巖心，巖屑和粉末。附贈的空白樣品和經(jīng)認證的土壤檢驗樣品能確保測量的可追溯性和準確性。
日立手持式熒光光譜儀性價比高
X-MET8000的設計能經(jīng)受住嚴苛的環(huán)境和天氣條件：符合IP54（等同于NEMA 3），能防塵和防水，其堅固性經(jīng)過MIL-STD-810G軍事標準測試。
操作簡單
大圖標界面非常直觀，易于使用，帶上手套也不受影響?？勺远x的 4.3 英寸彩色觸摸屏，即使在陽光直射下也能清晰地看到檢測結果。只需進行簡單的培訓。
上等數(shù)據(jù)管理
可以在設備上儲存近10萬條結果，下載到U盤或電腦保存為CSV格式或防修改的PDF格式以確保*終數(shù)據(jù)完整性。您可以現(xiàn)場通過便攜藍牙打印機打印結果，然后貼在樣品袋上防止搞錯。
通過我們的App可以輕松分享結果，我們的云服務讓您實時安全導出結果。您甚至可以通過一個LiveConnect賬號管理所有X-MET設備的數(shù)據(jù)。
使用舒適
輕便性 (1.5 kg)、符合人體工學的設計以及 10-12 小時的電池壽命可確保工作流程不中斷，長時間使用不會感到勞累。
為整個采礦過程增值
日立手持式熒光光譜儀探測和采礦地圖繪制
快速篩選廣泛的元素（Mg 到 U）。檢測限制下調(diào)到 PPM 級別，確保您可在現(xiàn)場識別所有關鍵元素，這樣有助于制定決策。
現(xiàn)場挖掘控制
節(jié)省時間和**：減少寄送到實驗室以進行選擇性采礦和制定生產(chǎn)計劃的樣品數(shù)量。識別礦石儲量的邊界，盡可能減少廢石的挖掘量。
日立手持式熒光光譜儀分級控制
監(jiān)測礦石中關鍵元素的濃度，并且在基本上不需要準備樣品的前提下準確識別痕量元素。
過程監(jiān)測
將 X-MET 拿到不同地方，測試所在地的儲量、進料、濃度和尾礦等，并快速制定流程調(diào)整決策。
環(huán)境管理
測試采礦廢石和尾礦是否會對周邊環(huán)境造成潛在影響，制定相應的廢石管理計劃，并且將危害較輕的元素降至 PPM 級別。
更多日立手持式熒光光譜儀信息請直接致電埃登威上海
